MFD510 ,數字式超聲波探傷儀
MFD510是一款便攜式、數字式超聲波探傷儀,它能夠快速便捷、無損傷、精確地進行工件內部多種缺陷(裂紋、夾雜、氣孔等)的檢測、定位、評估和診斷。既可以用于實驗室,也可以用于工程現場。本儀器能夠廣泛地應用在制造業、鋼鐵冶金業、金屬加工業、化工業等需要缺陷檢測和質量控制的領域,也廣泛應用于航空航天、鐵路交通、鍋爐壓力容器等領域的在役安全檢查與壽命評估。
特點:
全中文顯示,主從式菜單,并設計有快捷按鍵和數碼飛梭旋輪,操作便捷,技術領先。
高亮度、寬溫、軍工級EL顯示屏,可以工作于室外強光下,液晶亮度可自由設定。
高性能安保電池模塊便于拆裝,可以脫機獨立充電,大容量高性能鋰離子電池模塊使儀器連續工作時間延長到八小時以上;儀器輕小便攜,單手即可以把持,經久耐用,引導行業潮流。
主要技術參數:
- 掃描范圍:(0~9999)mm
— 工作頻率:(0.5~15)MHz — 聲速范圍:(1000~9999)m/s
— 動態范圍:≥32
— 垂直線性誤差:≤3%
— 水平線性誤差:≤2%
— 分辨力:﹥40 dB(5P14)
— 探傷靈敏度余量:60 dB(深200mmφ2平底孔)
— 數字抑制:,不影響線性和增益
— 電噪聲電平:≤10%
— 電源、電壓:直流(DC)9V;鋰電池連續工作4-8小時以上
— 環境溫度:(-20~50)℃
— 相對濕度:(20~95)%RH
— 外形尺寸:263×170×61 mm
放大接收
硬件實時采樣:10 位AD 轉換器,采樣速度160MHz,波形高度保真
檢波方式:正半波、負半波、全波、射頻檢波
濾波頻帶(0.5~15)MHz,根據探頭頻率全自動匹配,無需手動設置。
閘門讀數:單閘門和雙閘門讀數方式可選;閘門內峰值讀數
增益:總增益量110dB,設0、0.1dB、2dB、6dB 步進值,獨特的全自動增益調節及掃查增益功能,使探傷既快捷又準確。
探傷功能
— 波峰記憶:實時檢索缺陷最高波,標定缺陷最大值
— ф值計算:直探頭鍛件探傷,找準缺陷最高波自動換算孔徑ф值;
— 動態記錄:檢測實時動態紀錄波形,存儲、回放
— 缺陷定位;實時顯示缺陷水平、深度、聲程位置
— 缺陷定量:缺陷定量值實時讀出
— 缺陷定性:通過回波包絡波形,方便個人經驗判斷
— 曲面修正:用于曲面工件探傷
— 距離補償:厚工件遠距離探傷實時補償,避免漏檢小缺陷
— 裂紋測深功能
— B型掃描:實時掃查,描述缺陷橫切面
發射脈沖
脈沖幅度:低、中、高分級選擇,適用探頭范圍廣
脈沖寬度:在(0.1~0.5)μs 范圍內連續調節,以匹配不同頻率的探頭
探頭阻尼:100Ω、200Ω、400Ω可選,滿足靈敏度及分辨率的不同工作要求
工作方式:單探頭、雙晶探頭、穿透探傷
掃描范圍
零界面入射0~9999mm(鋼中、縱波),可連續調節
通訊接口
USB2.0高速通訊傳輸接口
報警
閘門內聲光報警及關閉
實時時鐘記錄
實時探傷日期、時間的跟蹤記錄,并存儲
數據存儲
100組快捷選擇探傷參數通道,可預先調校好各類探頭和儀器的組合參數,自由設置各行業探傷標準;內存1000幅探傷回波信號及參數,實現存儲,讀出及通過USB接口傳輸。
電池模塊
高容量鋰電池模塊,在線充電和脫機充電兩種充電方式,方便探傷人員使用。
顯微鏡XTZ04 顯微鏡XTZ03 顯微鏡XTZ02 顯微鏡XTZ01 顯微鏡XTZEAV 顯微鏡XTZEAS 顯微鏡XTZEAC 顯微鏡XTZEA 顯微鏡XTZEA 顯微鏡XTZDA 顯微鏡XTZEV 顯微鏡XTZES 顯微鏡XTEEC 顯微鏡XTZE 顯微鏡XTZD 顯微鏡XTT 顯微鏡PXSE 顯微鏡PXSD 顯微鏡PXSC 顯微鏡PXS40 顯微鏡PXS20 顯微鏡BM60XCV 顯微鏡BM60XCS 顯微鏡BM60XCC 顯微鏡BM60XC 顯微鏡BM59XCV 顯微鏡BM59XCS 顯微鏡BM59XCC 顯微鏡BM59XC 顯微鏡BM59XB 顯微鏡BM59XA 顯微鏡BM58XCV 顯微鏡BM58XCS 顯微鏡BM58XCC 顯微鏡BM58XC 顯微鏡BM58XB 顯微鏡BM57XCV 顯微鏡BM57XCS 顯微鏡BM57XCC 顯微鏡BM57XC 顯微鏡BM57XB 顯微鏡BM11S 顯微鏡BM11C 顯微鏡BM11 顯微鏡BM112